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SMT貼片加工百科:球柵陣列BGA檢測

來源:本站     時間:2020/03/14
球柵陣列(BGA)組件是相對較新,更復(fù)雜的技術(shù),它逐漸取代了雙列直插封裝技術(shù)(DIP)或傳統(tǒng)的扁平封裝技術(shù)。 在BGA組裝過程中,重要的是要注意墊在包裝下,因此肉眼不可見。 由于這個原因,我們不僅需要高質(zhì)量的焊接工藝,還需要進(jìn)行BGA檢測,以確保優(yōu)化和可靠性。 

BGA檢測或表面貼裝技術(shù)(SMT貼片加工)檢測是為了分析芯片和PCB之間的連接。 在BGA中,我們必須檢查裝配的各個方面,例如包裝的高度,檢查爆米花和連續(xù)監(jiān)測終端的尺寸。 這可以使用各種技術(shù)來完成,例如:
  1. 光學(xué)檢測

  2. 機(jī)械檢查

  3. X射線檢測



光學(xué)檢測可以通過使用內(nèi)窺鏡密切觀察球柵陣列與PCB表面的連接來完成。 市場上有用于光學(xué)檢測的設(shè)備,這些系統(tǒng)使我們清楚地了解PCB和芯片之間的連接,從中可以評估工藝質(zhì)量。 BGA的機(jī)械測試是一個破壞性的過程。 大多數(shù)破壞性機(jī)械測試是通過沖擊測試完成的,其中整個組件受到?jīng)_擊和剪切,然后通過測量應(yīng)變來評估焊點(diǎn)的機(jī)械性能。 



銘華航電BGA  X-ray檢測設(shè)備

BGA測試的最先進(jìn)方法是X射線檢測。 通過使用X射線,我們可以簡單地了解該過程的更清晰畫面。 當(dāng)完整的PCB經(jīng)受X射線測試時,所獲得的圖像清楚地顯示球形網(wǎng)格,從那里可以可視地分析不能光學(xué)檢查的連接。 X射線檢測也可以與BGA裝配過程一起實(shí)時進(jìn)行,以持續(xù)監(jiān)測質(zhì)量,因?yàn)檫@也有助于我們檢查傳統(tǒng)技術(shù)無法分析的接頭,這是迄今為止更好的選擇。 

在BGA組裝過程中主要發(fā)生的主要問題是對準(zhǔn)問題,與保持封裝的恒定隔離高度有關(guān)的問題,最重要的是,球柵陣列連接必須是對稱的。 如圖2所示,a和b代表BGA組裝的兩個不同例子。 這些是使用X射線拍攝的BGA組裝圖像。 從這些圖像中,更容易目視檢查過程。 我們可以看到包裝的對齊情況,并注意到BGA中的形狀變形必須減小以確保連接的安全性 



另一個非常常見的問題是BGA連接的“爆米花”。 當(dāng)BGA的變形增加時,它會導(dǎo)致某些焊球在焊接過程中合并在一起,從而導(dǎo)致組件的“爆裂”,如圖3所示。當(dāng)X射線檢測完成時,這很容易找到。 這里需要注意的是,這種影響可能不容易通過光學(xué)檢查來檢查,因?yàn)檫B接的爆裂可能在包裝的中心并因此從側(cè)面看不見。 因此,X射線檢測為BGA裝配工藝增添了非常有價值的優(yōu)勢。


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